题目：Statistical Modeling of Multivariate Degradation Processes

汇报人： 汤银才

会议时间：2026年1月6日(周二)  10：30

地点：综合楼644会议室

报告人简介：

汤银才，华东师范大学教授、博士生导师，Statistical Theory and Related Fields 执行主编，《应用概率统计》编辑部主任，《Journal of Reliability Science and Engineering》编委，中国R语言与TeX的推广者；现任中国现场统计研究会大数据统计分会常务理事、副秘书长，中国现场统计研究会可靠性工程分会名誉理事长；主要从事可靠性及贝叶斯统计理论与应用研究，主讲贝叶斯统计(全英语)、可靠性统计、统计计算、数据可视化、统计学专业英语、R语言统计分析等20多门课程；曾获华为上海研究所优秀技术成果奖，华东师范大学研究生教育卓越育人奖，华东师范大学研究生教育优秀教师奖，上海市科学技术奖三等奖，上海市科学技术进步三等奖，上海市教育发展基金会申银万国奖，上海市教学成果奖三等奖，全国统计科学技术进步二等奖等荣誉.

报告摘要：

In this talk, we will focus on modeling  multivariate degradation processes for complex systems. Detailed presentations are made on parameter estimation, reliability analysis, and prediction of remaining useful life, with analysis of multiple degradation datasets from OLEDs, lithium batteries, heavy machinery tools, and permanent magnet brakes.